
2015년 1월, 현재의 시점에서 본격적인 플래시 스토리지의 대중화 시대가 열렸습니다. 스마트폰과 테블릿
eMMC의 대용량화, 개인용 컴퓨터의 SSD 대중화, 빅데이터처리를 위한 서버 스토리지의 폭발적인 증가,
차량용 플래시 스토리지의 본격적인 도입 등, 바야흐로 플래시 스토리지의 전성시대가 도래하였다고
확신합니다.
본사는 2009년 창업 이래, 플래시 스토리지에 관한 Total Solution 을 공급하겠다는 의미를 담은 Elixir
Flash Technology라는 회사명에 걸맞게 성장하여 왔습니다. 플래시 스토리지의 안정성과 성능에 대한
강력한 테스트 솔루션 및 플래시 스토리지 기반 시스템 성능 가속화 기술에 대한 세계최고의 provider가
되고자 한길을 달려왔습니다. 그 결과, 국내외 메이저 반도체 제조사 및 휴대폰 제조사에 플래시 스토리지
솔루션을 공급하기 시작했고 2015년 수출 백 만불 달성을 눈앞에 두고 있습니다.
플래시 스토리지의 강력한 테스트와 성능가속화 기술을 통해, 스마트 폰 차량 사용자에게 빠른 속도와
안전한 데이터 보존을 위한 솔루션을 제공하는 것을 본사의 최종 목표로 하고 있습니다.
본사는 Core Technology 기반 글로벌 기업을 목표로 합니다. 꾸준한 자기개발을 통해 현재 보다 더 나은
내일을 꿈꾸고, 오늘의 목표를 달성하기 위해 열정을 다하는 인재를 회사의 핵심 가치로 생각하고 오늘도
한발 한발 나아가고 있습니다.
이에프텍 대표이사 박상규 드림
Name | 이에프텍 (Elixir Flash Technology) | Address | 경기 수원시 영통구 광교로 109 한국나노기술원 5층 |
---|---|---|---|
CEO & Founder | 박상규 | Engineers | 10 |
Start date | 2009.9 | URL | www.elixirflash.com |
eMMC/SSD의 내부 알고리즘 지식을 기반으로 Gray box 테스팅 알고리즘을 개발하여
강력하고 빠른 테스팅을 위한 H/W & S/W 통합 플랫폼을 제공한다.
EF eMMC Tester 는 AP(Application Processor)기반 실온
실장 테스팅 장비로써 eMMC 단품 소켓을 탑재한 최대 64
대의 임베디드보드와 한대의 제어 PC로 구성되어 있다.
Tester의 주요 테스팅 항목은 다음과 같다.
제어 프로그램인 EF-monitor는 one-click 수행이 가능한
윈도우 GUI 프로그램으로 구성되어 있고 최대 64대 eMMC
에 대한 테스트 수행과 모니터링이 가능하다. 오류가
발생했을 때 오류 데이터 블록에 대한 분석 및 오류 관련
정보들을 email 송부기능 및 데이터베이스에 저장하는
기능을 가지고 있다. 또한 새로운 테스트 케이스의 개발 및
적용을 용이하도록 설계되어 있다.
테스터의 핵심 기술은 테스트 케이스 즉 테스트
알고리즘으로써 특허기반 Gray-boy 테스팅을 위한 각종
아이디어가 구현된 50여가지 이상의 테스트 케이스들로
구성되어 있다. 이들은 드라이버 레벨 뿐만 아니라
파일시스템상에서 돌아가는 시스템 레벨에서도 구현되어
실제 시스템과 유사한 테스트 환경을 확보한다. 테스트 케이스
외에도 다수의 보드를 제어하기 위한 제어프로토콜은 대량
테스팅 플랫폼 구현을 위한 핵심 기술 중에 하나이다.
eMMC/SSD의 내부 알고리즘 지식을 기반으로 Gray box 테스팅 알고리즘을 개발하여
강력하고 빠른 테스팅을 위한 H/W & S/W 통합 플랫폼을 제공한다.
차량용 eMMC 테스팅 장비는 차량용 eMMC 검증을 위한
고속동작 지원하는 챔버 기반 eMMC 안정성/내구성 테스팅
장비이다. 구현하고자 하는 데스트 시나리오는 -25~+85도의
환경에서 고속 동작시험과 극한 온도 (-40도~ 100도)에서
저장시험을 반복 수행하는 것이다. 이를 위해 eMMC 호스트
컨트롤러가 구현된 FPGA와 8개의 eMMC 소켓을 내장한
테스트 보드와 복수개의 보드를 제어하는 제어 PC 및
프로그램으로 구성되어 진다.
eMMC Tester II는 고온/저온에서의 Power-cycle 테스트가
가능한데, 이는 뜨거운 태양아래에서 동작하는 차량용
eMMC의 동작환경과 유사한 테스트 환경을 재현한다.
챔버에 의한 Burn-in 테스트 장비는 반복사용에 의한 eMMC
불량 블록(bad block)을 실제로 양산시키고 이에 대한
eMMC 컨트롤러의 대응을 쉽게 테스트 해 볼 수 있어 테스트
시간을 단축시키고, 커버리지를 극대화 할 수 있다.
eMMC/SSD의 내부 알고리즘 지식을 기반으로 Gray box 테스팅 알고리즘을 개발하여
강력하고 빠른 테스팅을 위한 H/W & S/W 통합 플랫폼을 제공한다.
플래시 스토리지는 반도체 공정의 발달로 가격당 용량비는
매년 두배씩 증가하고 있으나 그것의 품질은 매년 두배 이상
나빠진다. 낸드 셀 자체의 품질은 최근 NAND의 PE
사이클(Program/Erase 횟수)이 500회에 불과하다는 것으로
대변되는데 이는 NAND 기반 플래시 스토리지가 얼마나 약한
디바이스라는 것을 보여준다. 하지만 그것의 응용영역은
스마트폰을 넘어 안드로이드 등의 플랫폼을 탑재한 차량용
인포테인먼트 시스템 등으로 확대되고 있다. 따라서 플래시
스토리지의 품질 테스팅의 필요성은 확대되고 있다.
호스트 소프트웨어 기술을 이용하여 플래시 스토리지를 이용한 대용량 스토리지 시스템의
성능을 극대화하고 플래시 스토리지를 사용하는 임베디드 시스템의 안정성을 확보한다.
로컬 플래시 스토리지(eMMC/SSD)를 캐쉬로 사용하여
대용량 클라우드 스토리지의 속도를 극대화 시키는
모바일/PC용 소프트웨어로써 사용자가 대용량 클라우드
스토리지를 자신의 로컬디스크처럼 빠른 속도로 사용할 수
있게 한다. 개인사용자들이 멀티미디어 데이터 등으로 많은
데이터를 가지고 있지만 특정기간에 접근하는 데이터는
제한적이므로 소량의 플래시 스토리지가 99.9%이상의
트래픽을 처리할 수 있어 10TB의 고속스토리지를 실현할 수
있다.
리눅스 FAT을 기반으로 power-failure에 안전한
파일시스템으로써 블랙박스 등 SD 카드 기반의 임베디드
디바이스에 최적화되어 있다. 본사의 강력한 테스팅 환경을
통과한 고안정성 FAT 파일시스템은 어떠한 사고에도 최신의
사진 등의 데이터를 플래시 스토리지에 보존한다.
특징은 1)안정성 측면에서 사용자가 데이터 저장 중 SD
카드를 탈착하거나 사고 충격에 의해 SD카드가
분리되었을때도 마지막 저장한 테이터가 안전하게
저장된다는 점이고 2)성능측면에서는 호스트 트래픽을
순차적으로 만들어 SD카드에 성능을 최대화 할 수 있도록
유지하는 기능을 가지고 있다.
세계 최초의 windows GUI기반 ext4-parser로써 eMMC
오류 혹은 file system 오류에 의해 파일시스템 crash가
발생했을 때 분석할 수 있는 도구이다. 파일시스템의 meta-
data 혹은 Journal-data가 crash가 발생했을 때, crash-data
를 중심으로 앞/뒤의 데이터를 분석하기 위해 본 프로그램은
리스트에서 inode를 클릭하거나 sector검색 기능 등을 통해
사용자가 조사대상의 데이터에 대한 빠른 접근/분석을 가능케
한다. File/directory에 대한 inode정보를 이용해 특정 파일에
접근하는 top-down 접근기능과 sector주소를 이용해
file/directory를 찾아내는 bottom-up 접근기능을 제공한다.
TLC(Triple level cell) NAND에 적합한 eMMC용 FTL로써 호스트로 부터 트래픽 데이터에
대한 정보를 전달받아 데이터의 효율적인 운용에 사용하여 eMMC의
내구성(endurance)과 성능을 극대화한다.
EF-FTL은 호스트의 정보를 이용해서 성능과 내구성을
극대화한다. 첫번째 버전은 새로운 리눅스 파일시스템인
f2fs(flash friendly file system)에 최적화된 버전으로써 f2fs
의 로그버퍼 관리 기법에 연동된 FTL 내부 로그버퍼 관리
기법을 도입하여 성능 및 내구성을 높인다. 아이디어는
사용주기가 비슷한 데이터를 물리적으로 인접한 영역에
배치하여 garbage collection 비용을 줄이는 것인데, 구현
방법은 f2fs전용 FTL외에도 ext4 파일시스템에서도 스토리지
데이터에 hot/cold 표시를 하여 스토리지에 전달하고 이를
스토리지가 내부운용에 활용하는 것도 가능하다.
eMMC/SSD 등을 개발하기 위한 시뮬레이터이다. 본
시뮬레이터는 NAND의 read/program/erase의 횟수를
기반한 성능평가기능에서 더 나아가 스토리지 내주의 다양한
레벨의 병렬성을 고려한 지연시간 기반 성능평가 기능을
제공한다. 스토리지의 cache모드를 통한 시스템 병렬성, 다중
채널 상의 복수 개 NAND운용에 대한 멀티 채널 병렬성, 한
채널내의 복수개의 NAND 운용을 통한 싱글채널 병렬성,
multi-plane 명령어, Nand cache read/write 등을 통한
디바이스 병렬성을 모두 고려하여 개별 명령어에 대해
지연시간을 계산한다.